一、恒溫恒濕試驗(yàn)箱產(chǎn)品介紹

使用于航空航天、電工電子、儀器儀表、材料設(shè)備、零部配件等試驗(yàn)樣品做高低溫濕熱例行試驗(yàn)、耐寒試驗(yàn)、高低溫交變濕熱試驗(yàn)、恒溫恒濕試驗(yàn)、低溫儲(chǔ)存，以便在擬定環(huán)境條件下進(jìn)行試驗(yàn)儲(chǔ)存后對(duì)產(chǎn)品的性能、行為作出分析及評(píng)價(jià)。

二、執(zhí)行滿(mǎn)足標(biāo)準(zhǔn)及試驗(yàn)方法

GBT10586-2006濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件。

GB10592-2008高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件（溫度交變）。

GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A:低溫(IEC60068-2-1:2007)。

GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫(IEC60068-2-1:2007)。

GB/T2423.3-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cab:恒定濕熱試驗(yàn)(IEC60068-2-78:2001)。

GB/T2423.4-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Db:交變濕熱12h+12h循環(huán)(IEC60068-2-30:2005)

GB/T2423.9-2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cb:設(shè)備用恒定濕熱(IEC60068-2-56)。

GB/T2423.22-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N:溫度變化(IEC60068-2-14)。

GJB150.3A-2009Jun用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第3部分：高溫試驗(yàn)。

GJB150.4A-2009Jun用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第3部分：低溫試驗(yàn)。

三、恒溫恒濕試驗(yàn)箱技術(shù)參數(shù)